徠卡DCM8光學(xué)表面測量系統采用了新的非接觸式三維光學(xué)表面測量技術(shù)。設計用于提高您的工作效率，它是一款融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和干涉測量技術(shù)優(yōu)點(diǎn)的多功能雙核系統。一鍵模式選擇，精密軟件、無(wú)移動(dòng)部件的高分辨率共聚焦掃描技術(shù)確保用戶(hù)實(shí)現超快速的分析操作。

高精確度和可重復性

您所查看的產(chǎn)品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌。通過(guò)徠卡Leica DCM8光學(xué)表面測量系統高清共聚焦顯微鏡能夠實(shí)現2納米的垂直分辨率。您所查看的產(chǎn)品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑?

可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量(VSI);相移干涉測量(PSI)或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量(ePSI)。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則LeicaDCM8光學(xué)表面測量系統可提供明視場(chǎng)模式和暗視場(chǎng)模式。

快速捕捉表面數據

 徠卡DCM8光學(xué)表面測量系統采用創(chuàng )新性高清微顯示掃描技術(shù)。由于傳感器頭部未使用運動(dòng)部件，因此設備能夠實(shí)現快速和可重現的捕捉數據。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場(chǎng)，能夠觀(guān)察較大的樣本面積。對于具有較大面積區域的樣本來(lái)說(shuō)，為獲得無(wú)縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。

迅速匹配您的樣本

徠卡Leica DCM8光學(xué)表面測量系統進(jìn)行配置以便適用于您的樣本，從反光性表面，到透明層下的表面，再到需要較大工作距離的樣本-我們都能夠提供滿(mǎn)足您需求的高品質(zhì)物鏡。對于大尺寸樣本來(lái)說(shuō)，從我們的可調整鏡筒和電動(dòng)載物臺系列中進(jìn)行選擇。除此之外系統還采用了四種不同顏色的LED燈，能夠使您選擇適用于具體材料觀(guān)察的波長(cháng)。

能夠有效地對結構進(jìn)行分析

友好的LeicaSCAN軟件能夠控制 徠卡DCM8光學(xué)表面測量系統。配方方案，多樣本和統計分析能夠優(yōu)化工作流程。您是否還需要執行更為復雜的三維測量任務(wù)?那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會(huì )進(jìn)一步擴展系統的測量功能。

獲取高質(zhì)量的圖像

徠卡Leica DCM8光學(xué)表面測量系統通過(guò)將性能的光學(xué)元件與高清CCD攝像頭、紅色、綠色、藍色和白色LED光源相結合，徠卡Leica DCM8光學(xué)表面測量系統能夠提供具有逼真的高清彩色圖像。再加上LED的連續性，能夠確保每個(gè)像素都能夠記錄真彩信息。分辨率和對比度提高的結果就是能夠為您的樣本提供水晶版清晰透徹的圖像。

目前和將來(lái)都夠獲取非?？煽康慕Y果

高清微顯示掃描技術(shù)未配置任何運動(dòng)部件，CCD攝像頭和4個(gè)LED燈均布置在兼顧緊湊的傳感器頭中。這種創(chuàng )新性設計能夠實(shí)現快速、可復制且無(wú)噪聲的圖像結果。值得一提的是，設備還具有較高的耐久性，實(shí)際上在較長(cháng)的使用壽命期限內設備幾乎不需要任何維護操作。

材料性能優(yōu)化

不管您是用于生產(chǎn)用途還是研究用途，徠卡Leica DCM8光學(xué)表面測量系統均能夠提供您所需要的精確、且可重復的測量分析結果，以便實(shí)現材料性能的優(yōu)化。